About: Scanning transmission electron microscopy     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : yago:Whole100003553, within Data Space : dbpedia.org associated with source document(s)
QRcode icon
http://dbpedia.org/describe/?url=http%3A%2F%2Fdbpedia.org%2Fresource%2FScanning_transmission_electron_microscopy

A scanning transmission electron microscope (STEM) is a type of transmission electron microscope (TEM). Pronunciation is [stɛm] or [ɛsti:i:ɛm]. As with a conventional transmission electron microscope (CTEM), images are formed by electrons passing through a sufficiently thin specimen. However, unlike CTEM, in STEM the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0.05 – 0.2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes STEM suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy, or electron en

AttributesValues
rdf:type
rdfs:label
  • مجهر إلكتروني نافذ ماسح (ar)
  • Microscopi electrònic de transmissió d'escaneig (ca)
  • Rastertransmissionselektronenmikroskop (de)
  • Microscope électronique en transmission à balayage (fr)
  • 走査型透過電子顕微鏡 (ja)
  • Scanning transmission electron microscopy (en)
  • Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy (pl)
  • Microscópio eletrônico de varredura por transmissão (pt)
  • Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ru)
rdfs:comment
  • Un microscope électronique en transmission à balayage (METB ou en anglais STEM pour scanning transmission electron microscope) est un type de microscope électronique dont le principe de fonctionnement allie certains aspects du microscope électronique à balayage et du microscope électronique en transmission. Une source d'électrons focalise un faisceau d'électrons qui traverse l'échantillon. Un système de lentilles magnétiques permet à ce faisceau de balayer la surface de l'échantillon à analyser. (fr)
  • 走査型透過電子顕微鏡(そうさがたとうかでんしけんびきょう、Scanning Transmission Electron Microscope、STEM))とは透過型電子顕微鏡の1つ。集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。 微少領域の電子回折や元素分析が可能。また空間分解能は一般的に、収束した電子線のプローブ径で決まる。 (ja)
  • Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy STEM (ang. Scanning transmission electron microscopy) - zasada działania mikroskopu jest analogiczna do zasad panujących przy obserwacji próbki pod SEM, tyle, że detektor znajduje się pod transparentną próbką (cienka folia). (pl)
  • مجهر إلكتروني نافذ ماسح (بالإنجليزية:(scanning transmission electron microscope (STEM) هو نوع من المجاهر الإلكترونية النافذة TEM حيث يتخلل الشعاع الإلكتروني العينة التي لا بد وأن تكون رقيقة جدا. ويختلف المجهر الإلكتروني النافذ الماسح عن المجهر الإلكتروني النافذ المعتاد CTEM في أنه يركز فيض الإلكترونات على بقعة صغيرة من العينة ويصورها ثم ينتقل إلى بقعة أخرى حتى يصور جميع البقع المشكلة للعينة. (ar)
  • Un microscopi electrònic de transmissió d’escaneig (STEM, de l'anglès scanning transmission electron microscope) és un tipus de microscopi electrònic de transmissió o TEM amb característiques típiques de microscopis electrònics de rastreig o SEM. Com passa amb un microscopi electrònic de transmissió convencional (CTEM), les imatges estan formades per electrons que passen a través d'una mostra prima. No obstant això, a diferència de CTEM, en la microscopia STEM el feix d'electrons està enfocat en un punt amb una mida típica de 0,05 - 0,2 nm, que s'escaneja sobre la mostra de manera que s'il·lumini en cada punt amb el feix paral·lel a l'eix òptic del microscopi. L'escaneig amb el feix a través de la mostra fa que la tècnica STEM sigui adequada per a tècniques analítiques com ara el mapatge e (ca)
  • Ein Rastertransmissionselektronenmikroskop (RTEM; englisch scanning transmission electron microscope, STEM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl auf eine dünne Probe fokussiert wird und zeilenweise ein bestimmtes Bildfeld abrastert. Als Bildsignal werden in der Regel die durch die Probe transmittierten Primärelektronen benutzt, deren Strom synchron zur Position des Elektronenstrahles gemessen wird. Der Bildentstehung nach handelt es sich um eine Unterform des Rasterelektronenmikroskops (REM), der Untersuchungsgeometrie nach um ein Transmissionsmikroskop. An die Proben werden die gleichen Anforderungen bezüglich Durchstrahlbarkeit gestellt wie beim Transmissionselektronenmikroskop (TEM; zur Abgrenzung oft auch als conventional transmission electron microscope, CTEM, bez (de)
  • A scanning transmission electron microscope (STEM) is a type of transmission electron microscope (TEM). Pronunciation is [stɛm] or [ɛsti:i:ɛm]. As with a conventional transmission electron microscope (CTEM), images are formed by electrons passing through a sufficiently thin specimen. However, unlike CTEM, in STEM the electron beam is focused to a fine spot (with the typical spot size 0.05 – 0.2 nm) which is then scanned over the sample in a raster illumination system constructed so that the sample is illuminated at each point with the beam parallel to the optical axis. The rastering of the beam across the sample makes STEM suitable for analytical techniques such as Z-contrast annular dark-field imaging, and spectroscopic mapping by energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy, or electron en (en)
  • Um microscópio eletrônico de varredura por transmissão (MEVT, ou STEM, do inglês scanning transmission electron microscope) é um tipo de microscópio eletrônico de transmissão (MET). Como com qualquer dispositivo de iluminação por transmissão, os elétrons passam através de um espécime suficientemente fino. Entretanto, o MEVT é distinto dos microscópios eletrônicos de transmissão convencional (METC) por focar o feixe de elétrons em uma região estreita, que é varrido sobre a amostra em um mapeamento de pontos (a varredura). (pt)
  • Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ — сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, англ. scanning transmission electron microscope, STEM) — вид просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование. (ru)
foaf:depiction
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Abbcorr1.jpg
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Ferromagnetic_domains_in_spiral_pattern_for_Fe60Al40.jpg
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/STEM_fig.png
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Scanning_transmission_electron_microscopy_srtio3_compare_adf_abf.jpg
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Stem1.jpg
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Stem_dpc_schematic_magnetic_explanation.jpg
  • http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/Stemschema1.jpg
dcterms:subject
Wikipage page ID
Wikipage revision ID
Link from a Wikipage to another Wikipage
sameAs
Faceted Search & Find service v1.17_git139 as of Feb 29 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 08.03.3330 as of Mar 19 2024, on Linux (x86_64-generic-linux-glibc212), Single-Server Edition (62 GB total memory, 46 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software